Presse

EFA Inspection® im Pressespiegel!


Weitere Veröffentlichungen und Presseartikel der LEBERT Software Engineering finden Sie hier!



Veröffentlichung auf all-electronics.de am 13.09.2011

Optische Inspektionslösung für Kleinserien

Genau dann, wenn AOI-Lösungen – z. B. für THT – nicht einsetzbar sind, die Erstellung eines Prüfprogrammes sich zeitlich nicht lohnt oder die hohe Anzahl der Pseudofehler eine weitere Arbeitskraft binden würde, lohnt sich der Einsatz eines EFA Inspection-Systems. ... weiter lesen



Messevorbericht zur SMT 2011 in der PLUS April 2011

iPad – Feeling in der Qualitätssicherung

Die LEBERT Software Engineering (LSE) bietet mit Ihrer Inspektionslösung EFA Inspection® eine optimale Lösung für den Test von Erstmustern, Kleinserien, Prototypen und zur Rüstkontrolle. AOI-Lösungen sind in diesem Bereich meist nicht einsetzbar. Entweder lohnt sich zeitlich die Erstellung eines Prüfprogrammes nicht oder die hohe Anzahl der Pseudofehler bindet – neben der Programmierung - zusätzlich eine weitere Arbeitskraft. ... weiter lesen